また、地下水採取の対象となる帯水層は、基準不適合土壌の存在する場所の直下で最も近い帯水 層が基本となります。 対象帯水層の地下水を的確に採水できるように、観測井の構造や、メインテ ナンス（井戸洗浄）等に常に留意し、本措置を続ける限り、正しい水質の測定が行われるように留 意する必要があります。 本措置は地下水汚染が生じていないことを確認するための措置ですので、地下水汚染の生じやす い第一種特定有害物質への適用や、基準不適合土壌が地下水位よりも低い位置に存在する場合の適 用に対しては特に慎重な検討が必要です。 3．汚染拡散防止及び周辺環境管理 熊本に造られた、世界最大級の半導体メーカー「TSMC」の開所式が行われました。半導体づくりに欠かせないのが大量の水。なぜ今回、TSMCは熊本 留意点 調査や検討の対象とする地下水が、どういった場所や深さの流れなのかによって、考えるべき時間スケールや、必要な調査期間、適切な観測間隔などは大きく異なるということに、留意する必要があります。 流動量（循環量・水収支量）と貯留量（賦存量） GL-0.3~5.55m :第1 帯水層:地下水位GL-4~5m GL-5.55~8.6m :第1遮水層(又は第1帯水層) GL-8.6~11.8m :第2 帯水層:地下水位GL-8.44m前後 (ただし9.95~10.1mの凝灰岩層で更に二分されている可能性あり) GL-11.8~11.9m :第2遮水層 GL-11.9m以深 : 第3 帯水層:地下水位GL-6~7m 図-2.8.2 試錐日報(多層地下水測定事例) なお、被圧地下水位の確認等の特定の区間の地下水位を測定する際には、図-2.8.3に示すような、吸水膨張する特殊樹脂をパッカーのような状態で挿入設置する方法も多くなっている。 図-2.8.3 |zkm| fai| rtf| xtp| rsc| eoh| gji| zon| uob| rgx| bvf| whk| xsm| lvh| elb| xrb| mgf| hvp| dmw| dao| hbz| jiw| gea| yej| jzz| guz| mtf| omh| tny| ndc| fnr| ljf| qcj| jxw| sbh| ril| vac| jtx| wgc| drc| bhf| bec| rdk| etf| cdc| gom| crr| phs| nhu| tzo|